A Fritz Haber Intézet (Max Planck Társaság) kutatói áttörést értek el a nanotechnológia területén, amiről az Advanced Materials című folyóiratban számoltak be. „Erős csatolt fonon-polaritonok spektroszkópiás és interferometriás összfrekvenciás képalkotása SiC metasurface-ekben” című tanulmányuk egy új mikroszkópos módszert mutat be, amely soha nem látott módon képes megjeleníteni a nanostruktúrák és optikai tulajdonságaik részleteit.
A kifejlesztett technika lehetővé teszi a nanoméretű szerkezetek vizualizálását, amelyeket korábban a hagyományos mikroszkópok nem tudtak megfigyelni. A kutatók sikeresen alkalmaztak egy eljárást, amelyben egy fény színt „csapdába ejtik” a struktúrán belül, majd ezt egy másik fény színével keverve vizualizálják. Ez a módszer új betekintést nyújt a nanoszerkezetek világába.
A kutatás több mint öt év fejlesztési és kísérleti munkájának eredménye, amely a Fritz Haber Intézet Szabad Elektron Lézerének (FEL) egyedi tulajdonságait is kihasználta. Ez az új típusú mikroszkópia különösen értékes, mivel mélyebb megértést tesz lehetővé a metasurface-ek működéséről, ami előrelépést jelenthet a lencse tervezésben és más optikai eszközök fejlesztésében.
Ez a felfedezés új fényforrások és koherens termális fényforrások kialakítását is lehetővé teszi, és növeli a sík optikai eszközök hatékonyságát. A kutatók szerint ez még csak a kezdet, de az eredmények már most hatalmas jelentőséggel bírnak a síkoptika és más területek számára.
